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IC TEST SOCKET
 
適用封裝形式 BGA, LGA, QFN, CSP(micro BGA); 適用封裝間距 1.27~0.50mm
 
 
DE1-038BB40-01
DE1-058BF40-01
SSP-CCP8010
 
 
Memory IC Test Module
DE1-058BF40-01
 
 
Memory IC Test Module
DE1-058BF40-01
 
 
CMOS Sensor Test Socket
DE1-038BB40-01
 
 
QFN Test Socket
SSP-CCP7026
 
 
IC TEST SOCKET
SSP-CCP8010
 
 
 
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